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【直播】集成IC失效分析与故障排除方法

2021-08-23  浏览量:8

 

IC常见的失效现象有哪些?其对应的失效应力是什么?如何对集成IC进行失效分析与故障排除?电子制造资讯站将于8月27号本周五下午三点开展线上直播,分享IC的失效分析方法!

 

本周五分享:集成IC失效分析与故障排除方法

 

课程大纲

 

1、IC常见的失效现象

2、IC失效现象对应的失效应力

    2.1 EOS

    2.2 ESD

    2.3 虚焊

    2.4 机械应力

3、失效机理

4、故障排查和故障再现方法

 

讲师介绍

 

武晔卿,美信检测专家顾问。电子工程硕士,研究领域:电子系统设计与测试技术。

曾任航天二院总体设计所主任设计师,机电制造企业研发总监、事业部总监,北京市级优秀青年工程师,科协委员。出版专著《嵌入式系统可靠性设计技术与案例解析》(北航出版社,第2版再版)、《电路设计工程计算》(电子出版社)。

专注于电子产品可靠性设计、测试、失效分析与整改、工程计算、技术方法论的研究。

 

活动详情

 

时间:2021年8月27日 15:00

形式:直播互动,提供回看,请务必加入交流群

课程原价399元,限时免费!

公众号后台回复“123”免费获取听课和入群资格!

 

长按识别二维码回复:123

 

直播合作

 

电子制造资讯站将持续举办线上技术交流会,有意向合作担任讲师的可联系刘先生(手机号码:13392891259,微信同)了解详情!

 

简介

MTT(美信检测)是一家从事材料及零部件品质检验、鉴定、认证及失效分析服务的第三方实验室,网址:www.mttlab.com,联系电话:400-850-4050。

 

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