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集成电路失效分析技术与器件替换检验参数注意事项

2022-05-17  浏览量:70

 

集成电路失效分析技术与器件替换检验参数注意事项

 

我国航空航天的蓬勃发展,汽车也向电动化的趋势不断探索,5G时代的到来,如何确保在各种复杂环境都能保证稳定运行,这都对新一代集成电路提出了更高的要求。因此必须在芯片量产之前与量产过程中对其进行严格的验证测试。

 

为促进电子行业的技术发展,提升产品质量管控,深圳市美信检测技术股份有限公司联合仪器信息网将于2022年5月20日(本周五)举办“集成电路检测与测试技术及应用”主题网络研讨会,并在会上作出报告,与企业分享美信在业内的失效分析技术经验,为广大集成电路材料行业用户、检测人员和相关学者提供一个线上近距离交流平台。

 

会议详情

 

主办单位仪器信息网        深圳市美信检测技术股份有限公司

会议时间:2022年5月20日 09:00 - 11:30

会议形式:线上直播

报名方式:扫描下方二维码进行报名(免费)

 

会议议题

 

1、检测和测试技术的应用对于集成电路新产品导入NPI的意义

2、集成电路器件替换检验参数注意事项

3、集成电路失效分析技术

4、半导体集成电路制造中显微镜的应用

5、集成电路芯片测试的自动化智能化产业应用

 

简介

MTT(美信检测)是一家从事材料及零部件品质检验、鉴定、认证及失效分析服务的第三方实验室,网址:www.mttlab.com,联系电话:400-850-4050。

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