【直播】SAT在元器件失效分析中的典型应用

超声波扫描分析技术是目前能够最大效益分析解决器件的结构缺陷、工艺及质量等问题的主要手段。可以检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹、空洞等缺陷，广泛应用于物料检测（IQC）、失效分析（FA）、质量控制(QC)、质量保证及可靠性(QA/REL)、研发(R&D)等领域。

美信检测将于9月23日（本周五）开展线上技术交流会，结合实际案例，分享超声波扫描技术方法与典型应用！

本周五分享：SAT在元器件失效分析中的典型应用

课程大纲

1. 超声波扫描介绍

2. 超声波扫描的特点

        2.1 无损检查的方法

        2.2 SAT与X射线检查的区别

        2.3 超声波扫描的常见的模式

        2.4 T模式与C模式成像区别

3. 超声波扫描应用与案例分享

        3.1 扫描样品要求

        3.2 在芯片内部分层的应用

        3.3 在PCB检查的应用

讲师介绍

曾工，美信检测技术专家。从事芯片封装解剖，元器件结构透视检查，在封装和测试方面有10年工作经验。

会议详情

时间：2022年9月23日 15:00

形式：直播互动，提供回看，请务必加入交流群！课程限时免费，同行莫入！

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