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AEC-Q测试

 

AEC-Q100 AEC-Q101 AEC-Q102 AEC-Q103 AEC-Q104 AEC-Q200

 

AEC-Q103是针对汽车传感器的测试标准。

 

近期汽车电子委员会(AEC)根据车载MEMS特性制定出最新标准AEC-Q103,由于之前MEMS微机电系统做车规测试一直是参照AEC-Q100,此次制定的标准无疑是为行业提供了更具有针对性的要求,对于MEMS做车规级测试也更加合理。

 

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测试流程

 

AEC-Q测试
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序号 测试项目 缩写 检测方法
PS组 MEMS压力传感器特定的压力测试
PS1 压力&高温工作寿命 PrHTOL 客户定义
JEDEC JESD22-A108
PS2 偏置脉冲压力温度循环 B_PPrTC 客户定义
JEDEC JESD22-A104
PS3 压力&低温工作寿命 PrLTOL MIL-STD-883 Method 1005.9
PS4 二氧化硫冷凝水
(也可以在有二氧化硫存在的饱和大气中进行测试)
CHS DIN 50018
PS5 腐蚀气体 CATm EN 600068-2-60/Method 4
PS6 耐化学性(也可溶剂浸泡) CR 客户定义
ISO 16750-5
PS7 爆破压力 BPr 客户定义
PS8 耐受压力 PPr 客户定义
PS9 盐雾 SIT MIL-STD-883 Method 1002
PS10 防尘 DST MIL-STD-202G Method 110A
PS11 内部外观检查 IV MIL-STD-883 Method 2013
PS12 芯片剪切 DIS MIL-STD-883 Method 2019
A组 加速环境应力测试
A2 有偏温湿度或有偏高加速应力测试 THB/HAST JEDEC
JESD22-A101 or
A110
A3 高压或无偏高加速应力测试或无偏温湿度测试 UHST/AC/TH JEDEC
JESD22-A102
A118 or A101
C组 封装组合完整性测试
C1 绑线剪切 WBS AEC Q100-001
AEC Q003
C2 绑线拉力 WBP MIL-STD 883 Method 2011
AEC Q003
G组 空腔封装完整性测试
G1 机械冲击 MS JEDEC JESD22-B110
G2 变频振动 VFV JEDEC JESD22-B103
G3 恒加速 CA MIL-STD-883 Method 2001
M组 麦克风特定测试
M1 温湿度循环 HTC JEDEC JESD22-A108
IEC 60068-2-2, Test-BA
M2 低温工作寿命 LTOL JEDEC JESD22-A108
IEC 60068-2-2, Test-AA
M3 低温存储 LTS JEDEC JESD22-A119
IEC 60068-2-2, Test-AA
M4 最大应力测试 MPT /
M5 耐久寿命 ELT /
M6 带有霜冻的湿热循环 DHCF /
M7 盐雾 SMT /
M8 尘粒污染 DPC /
A组 加速环境应力测试
A2 温湿度偏置 THB JEDEC JESD22-A101
A3 温湿度(无偏置) TH JEDEC JESD22-A101
G组 空腔封装完整性测试
G1 机械冲击 MS JEDEC
JESD22-B104
G2 变频振动 VFV JEDEC
JESD22-B103
G5 包装跌落 DROP /


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