【展会】美信检测参展2016纳博会

2016年10月26-28日，CHInano2016第七届中国国际纳米技术产业博览会（简称“纳博会”）将于苏州国际博览中心盛大开幕，该展会聚焦纳米新材料、分析与检测、微纳制造、MEMS、纳米生物与医药、纳米环保与清洁等领域的产品与技术，打造中国最具价值的纳米展场，美信检测作为材料行业的合作伙伴，受邀参展。

美信检测将于纳博会展示多项检测项目，包含新材料/新工艺分析、材料表面结构及成分分析及失效分析，其中不乏高端分析项目。

新材料/新工艺分析

项目分析：作为一家专注于材料和零部件检验及分析的专业第三方实验室，凭借多年的检验、分析经验，可以帮助研发单位制订新材料/新工艺的质量评价方案，帮助买家依据相关标准或规格书验证新材料的关键技术参数，出具专业检测、分析报告。

项目展示：新兴电子信息材料、高端金属结构材料、先进高分子材料、新型无机非金属材料、高性能的复合材料、前沿新材料。

案例图片：

PCB切片分析	芯片SEM图片

材料表面结构及成分分析

项目分析：利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体表面的相互作用，测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像，得到表面成分、表面结构、表面电子态及表面物理化学过程等信息，包括表面元素组成、化学态及其在表层的分布测定等。

项目展示：俄歇电子能谱分析（AES）、X射线光电子能谱分析（XPS）、飞行时间二次离子质谱分析（TOF-SIMS)、动态二次离子质谱分析（D-SIMS)、聚焦离子束（FIB）、透射电子显微镜（TEM）、X射线衍射分析（XRD）。

案例图片：

LED碎片金相显微镜观察	微米级缺陷样品截面制备
离子成像观察铜箔金相调整	PCB焊盘测试

失效分析

项目分析：通过分析工艺废次品、早期失效、试验失效、中试失效以及现场失效的失效产品明确失效模式、分析失效机理，最终明确失效原因。

项目展示：电子元器件失效分析、金属材料失效分析、高分子材料失效分析、复合材料失效分析、PCB/PCBA失效分析等。

案例图片：

电梯按钮PC外框断裂失效	发光二极管开路失效
二极管短路失效	IC分层失效

美信检测是一家具有CNAS与CMA认可资质的商业实验室，专注于为客户提供材料品质检验、鉴定、认证及失效分析等专业技术服务，美信检测即将亮相2016纳博会，在此，诚邀您莅临美信检测展位参观洽谈，展位号：118号。

展会福利：

1. 精美礼品，来了就送；

2. 展会现场专业技术工程师面对面交流，免费咨询技术问题；

3. 现场赠送一份美信检测“2016失效分析与测试案例精选”期刊，年度经典案例解说等着你。

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MTT（美信检测）是一家从事材料及零部件品质检验、鉴定、认证及失效分析服务的第三方实验室，网址：www.mttlab.com，联系电话：400-850-4050。