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CT扫描

 

缺陷分析 尺寸测量 逆向工程 CAD数模对比

 

CT扫描

 

简要介绍:

三维X射线扫描是以非破坏性X射线透视技术(简称CT),将待测物体做360°自转,通过单一轴面的射线穿透被测物体,根据被测物体各部分对射线的吸收与透射率不同,收集每个角度的穿透图像,之后利用电脑运算重构出待测物体的实体图像。CT是采用计算机断层扫描技术对产品进行无损检测(NDT)和无损评价(NDE)的最佳手段,利用断层成像技术,可实现产品无损可视化测量、组装瑕疵或材料分析。CT扫描取代传统的破坏性监测和分析,任何方向上的非破坏性切片和成像,不受周围细节特征的遮挡,可直接获得目标特征的空间位置、形状及尺寸信息。

 

应用领域:

汽车、金属材料、模具、逆向工程、尺寸测量、塑胶材料、铁路、电子电器、医疗器械、航空航天、科研院所、军工国防等。

 

尺寸要求:

250x260mm



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