美信检测亮相2016武汉光博会

2016年11月3-5日，第十三届“中国光谷”国际光电子博览会暨论坛（简称“光博会”）将于武汉国际博览中心盛大开幕，光博会由国家九部委和湖北省政府联合主办，创办至今已成功举办十二届，累计全球30多个国家和地区的4500余家知名企业参展，35万多专业观众参观，举办120多场论坛。

美信检测长期致力于电子电器行业的技术检测，受邀参加该展会，同时也为即将莅临展会现场的专业观众准备了诸多个惊喜，与各位技术大咖们共享高端技术的饕餮盛宴。展会现场，美信检测将为您展示：

电子产品失效分析

项目介绍：失效分析对产品的生产和使用都具有重要的意义，失效可能发生在产品寿命周期的各个阶段，发生在产品研制阶段、生产阶段到使用阶段的各个环节，通过分析工艺废次品、早期失效、试验失效、中试失效以及现场失效的失效产品明确失效模式、分析失效机理，最终明确失效原因。

资质证书：中国机械工程学会失效分析分会网点单位

检测项目：PCB/PCBA失效分析、电子元器件失效分析、金属材料及零部件失效分析、高分子材料失效分析、复合材料失效分析、涂/镀层失效分析。

PCB爆板	PCB电化学迁移
光耦缺陷分析	PCB界面分层失效

电子产品全面解决方案

项目介绍：美信检测专业技术工程师在电子元器件、光电器件领域拥有丰富的经验，在产品的的质量评价、失效分析等方面积累了大量的实际案例，可针对客户在研发、认证、生产及客服投诉等不同阶段提供不同的解决方案，使客户可以快速解决问题，抢占市场先机。

检测项目：PCB/PCBA全面解决方案、LED全面解决方案、新材料、汽车材料、航空材料。

PCB-BGA焊球开路	PCB上锡不良
LED基板蚀刻线路开路	LED绑定点开裂

三维X射线扫描（CT扫描）

项目介绍：CT是采用机算计断层扫描技术对产品进行无损检测 （NDT）和无损评价（NDE）的便捷手段。利用断层成像技术，可实现产品无损可视化测量、组装瑕疵或材料分析。CT扫描取代传统的破坏性监测和分析，任何方向上的非破坏性切片和成像，不受周围细节特征的遮挡，可直接获得目标特征的空间位置、形状及尺寸信息。

检测项目：缺陷分析、尺寸测量、逆向工程、数模比对

PCB-BGA焊球开路	PCB上锡不良
LED基板蚀刻线路开路	LED绑定点开裂

美信检测非常感谢长期以来每一位客户的支持与关注，在此诚邀您莅临我司展位参观洽谈。

福利来袭

1.来了就送精美礼品；

2.展会现场精彩活动，技术搭配娱乐，您的不二选择；

3.2016行业经典案例解析期刊，技术大咖的掌上资料库，您值得拥有。

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MTT（美信检测）是一家从事材料及零部件品质检验、鉴定、认证及失效分析服务的第三方实验室，网址：www.mttlab.com，联系电话：400-850-4050。