第十四届光博会,美信检测失效分析技术成咨询热点!

2017年11月3日为期3天的第十四届“中国光谷”国际光电子博览会暨论坛圆满落幕。此次以“光联万物，智引未来”为主题的光博会，展览面积2万平方米，共举办1场高峰论坛和6场主题论坛；吸引了来自美、英、德、俄等17个国家和地区的近500家参展商；展期3天到场观众总人数4.2万人，来自38个国家和地区的超过3.3万名专业观众前来观展。

在展会现场集中展示了全球范围内光电科技信息化、智能化、跨界化发展的新技术、新产品、新应用，让参展观众们提前感受“光能+智能”创造的未来生活！美信检测作为专业的第三方检测机构应邀参展，与众多的优质展商一起，助力光博会的圆满举行。

在美信检测展位现场，失效分析技术成咨询热点，观众纷纷驻足停留，好奇不已，我们专业工程师同事一对一耐心解答。

美信检测在失效分析领域有着丰富的经验，对于PCB/PCBA、电子元器件、集成电路等项目方面有着先进的检测技术服务，同时美信咨询提供全质量流程的改进方案，完善内部质量管控体系，提升客户的产品品质。

失效分析的模式

典型失效分析的流程

失效分析的意义

失效分析对产品的生产和使用都具有重要的意义，失效可能发生在产品寿命周期的各个阶段，涉及产品的研发设计、来料检验、加工组装、测试筛选、客户端使用等各个环节，通过分析工艺废次品、早期失效、试验失效、中试失效以及现场失效的样品，确认失效模式、分析失效机理，明确失效原因，最终给出预防对策，减少或避免失效的再次发生。