从原理到应用，你想了解的先进材料表征技术知识都在这！

先进材料表征技术

先进材料表征技术就是利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体表面的相互作用，测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像，表征材料表面微观形貌、表面粗糙度、表面微区成分、表面组织结构、表面相结构、表面镀层结构及成分等相关参数。

常用检测技术

X射线能谱分析（EDS）、俄歇电子能谱分析（AES）、X射线光电子能谱分析（XPS）、动态二次离子质谱分析（D-SIMS）、飞行时间二次离子质谱分析（TOF-SIMS）、聚焦离子束分析（FIB）、离子研磨抛光（CP）等技术。

您对上述检测技术是否了解呢？遇到相关技术问题该如何解决呢？例如：

如何表征材料的形貌、机构、成分组成等？

如何避免样品研磨面的应力损伤和污染，以便获得清晰的样品断面形貌，或进行元素定性定量分析？

观察器件引脚表面直径大小不一的起泡现象（铜上镀锡）进行元素定性定量分析，该选用何种检测分析技术？

铝板表面钝化膜中三价铬与六价铬的比例，对比不同环境对钝化膜中铬的影响是怎样的？

如何测量金属样品表面多层镀层的厚度以及成分分析？

屏幕组件上的有机污染物分析，推断污染物来源，改善工艺，怎么做？

……

为了解答大家的疑问，美信检测实验室本期（9月20日）的小型技术交流会将分享“生产研发中先进材料表征技术的应用及案例介绍”主题内容，帮助技术人们系统化了解FIB、CP、XPS、AES、TOF-SIMS等技术的原理及应用，以案例剖析的形式贯穿整个课题介绍：

生产研发中先进材料表征技术的应用及案例介绍技术交流会

课题介绍

1、FIB在截面样品的制备、缺陷位置定点切割观察方面的应用

2、CP在平滑表面的样品制备、超硬/超软样品的制备等方面的应用

3、XPS在表面成分和化学态分析，污渍和变色的表面分析和涂镀层深度分析方面的案例分析

4、AES在表面微区成分分析，小面积深度分析和薄膜成分分析的案例分析

5、TOF-SIMS在有机和无机材料表面的微量成分分析，表面异物分析的案例分析

会议详情

时间：2019年9月20日  13:30-16:00

地点：美信检测总部（深圳市宝安区北大方正科技园A3栋一楼会议室）

流程安排

报名方式（免费参会）

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会议咨询

陈小姐  0755-36606281  

邮箱：chenlanqing@mttlab.com