【直播】集成IC失效分析与故障排除方法

IC常见的失效现象有哪些？其对应的失效应力是什么？如何对集成IC进行失效分析与故障排除？电子制造资讯站将于8月27号本周五下午三点开展线上直播，分享IC的失效分析方法！

本周五分享：集成IC失效分析与故障排除方法

课程大纲

1、IC常见的失效现象

2、IC失效现象对应的失效应力

    2.1 EOS

    2.2 ESD

    2.3 虚焊

    2.4 机械应力

3、失效机理

4、故障排查和故障再现方法

讲师介绍

武晔卿，美信检测专家顾问。电子工程硕士，研究领域：电子系统设计与测试技术。

曾任航天二院总体设计所主任设计师，机电制造企业研发总监、事业部总监，北京市级优秀青年工程师，科协委员。出版专著《嵌入式系统可靠性设计技术与案例解析》（北航出版社，第2版再版）、《电路设计工程计算》（电子出版社）。

专注于电子产品可靠性设计、测试、失效分析与整改、工程计算、技术方法论的研究。

活动详情

时间：2021年8月27日 15:00

形式：直播互动，提供回看，请务必加入交流群

课程原价399元，限时免费！

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长按识别二维码回复：123

直播合作

电子制造资讯站将持续举办线上技术交流会，有意向合作担任讲师的可联系刘先生（手机号码：13392891259，微信同）了解详情！