印制板及其组件(PCB&PCBA)是电子产品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接决定了电子产品的可靠性。为了保证和提高电子产品的质量和可靠性,对失效进行全面的理化分析,确认失效的内在机理,从而有针对性地提出改善措施。
电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象,分辨其失效模式和失效机理,确认最终的失效原因,提出改进设计和制造工艺的建议,防止失效的重复出现,提高元器件可靠性。
集成电路复杂度与性能要求的持续攀升,叠加设计、制造、封装及应用环节的潜在风险,导致短路、开路、漏电、烧毁、参数漂移等关键失效模式频发。这不仅造成昂贵的器件报废与系统宕机,更常引发设计方、代工厂、封测厂与终端用户间的责任争议,带来重大经济损失与信誉风险。
高分子材料性能要求持续提升,而客户对高要求产品及工艺的理解差异,导致断裂、开裂、腐蚀、变色等典型失效频发,常引发供应商与用户间的责任纠纷及重大经济损失。
金属构件服役环境日益苛刻,对材料性能和结构可靠性提出更高要求。然而,设计缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不当使用等因素,极易引发疲劳断裂、应力腐蚀开裂、氢脆、蠕变、磨损、过载变形等典型失效。
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换PCB就好,换锡膏也好了?SMT“葡萄球”真凶藏在你没查的PCB里

发布时间: 2026-09-24 00:00
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某SMT产线在对喷锡板进行回流焊接后,部分焊点出现明显的“葡萄球”现象,焊点周围还伴随少量零散锡珠。

现场初步排查时出现了一个很有迷惑性的现象:更换其他厂家生产的PCB后,失效消失;而继续使用原PCB时,更换其他型号锡膏,或者调整炉温曲线,也能够解决问题。

那么,问题究竟出在锡膏、炉温,还是PCB?

如果只看单一因素,很容易陷入“换料有效,但根因不清”的循环。为了把问题查清楚,本次分析将失效PCBA、正常PCBA以及A、B、C三款锡膏共同纳入验证,按照“先确认常规嫌疑,再追踪挥发物差异”的思路逐步排查。


1. 外观检查:先确认现象的样子

对失效板(NG)做外观检查:

  • 部分引脚焊点明显呈"葡萄球"状,表面凹凸不平;

  • 葡萄球周围存在零散的小锡珠。

典型样品外观图片

典型样品外观图片

需要先分清两个容易混的概念:葡萄球指留在焊点上的未熔融锡粉团聚体,锡珠指被挤散到焊点周边的小球——成因都是氧化膜没被清掉,只是一个留在原地、一个被排开。


2. 表面分析:葡萄球的成分和焊料一样吗

对失效焊点(酒精清洗后)做表面显微分析:

  • 焊点表面不平整,呈明显凸出形貌;

NG焊点表面形貌

NG焊点表面形貌

  • 葡萄球主要成分为 C、O、Sn,未发现明显异常元素。

NG焊点EDS谱图

NG焊点EDS谱图

葡萄球的元素构成就是焊料本身(以 Sn 为主,C、O 来自表面残留的有机物与氧化物),没有外来污染元素——问题不在"沾了什么",而在焊料自己没能正常熔融铺展。


3. 切片分析:是没熔,还是熔了又缩回去

沿焊点做微切片,观察截面形貌与成分:

  • 焊点表面粗糙,呈凹凸不平状,葡萄球呈半岛状;

NG焊点切片微观结构

NG焊点切片微观结构

  • 葡萄球区域与焊料内部成分无明显差异。

NG焊点切片EDS结果(wt.%)

NG焊点切片EDS结果(wt.%)

"半岛状"这个形貌是关键——它说明这些锡粉从来没有融成一整块,是不完全熔融润湿的结果,而不是熔融成型后被外力推回去的。结合成分一致可以确认:葡萄球就是没熔透的锡膏本体。


4. 氧化膜厚度分析:先排除锡粉自己

用俄歇电子能谱(AES)测 A、B、C 三款锡膏中锡粉的表面氧化膜厚度。

  • 三款锡粉的氧化膜厚度均不超过 10nm,属于正常范围;

  • 表面以 C、O 为主,溅射到 10nm 深度后转为以 Sn 为主。

A款锡粉深度分布成分测试结果(At%)

A款锡粉深度分布成分测试结果(At%)

B款锡粉深度分布成分测试结果(At%)

B款锡粉深度分布成分测试结果(At%)

C款锡粉深度分布成分测试结果(At%)

C款锡粉深度分布成分测试结果(At%)

表中的深度是参考相同时间内溅射 SiO₂ 的深度换算的,不是直接测出来的膜厚。结论是锡粉自身的氧化程度正常,葡萄球与锡粉氧化无关。


5. 锡珠测试:再排除助焊剂活性

锡珠测试分两类做。

  1. A 类按 IPC-TM-650 2.4.43 标准执行。钢网 76mm×25mm×0.2mm,开直径 6.5mm 圆孔;陶瓷片厚 0.65mm;加热台 255±5℃,加热时间不超过 20s。分三组,分别在印刷后 15 分钟内、4 小时后、12 小时后测试。

  • 第一、二组中,三款锡膏的锡粉散落数量排序为 B > C > A,均有不同程度散落,但都满足 IPC 标准要求(第三组 12 小时不在标准参考范围内);

  • 三组测试均未出现明显葡萄球。

三款锡膏的回流特性有差异(A 最优、C 次之、B 最差),但都在合格范围内,单看这一步解释不了板级焊接时的葡萄球。

  1. B 类在 SMT 产线现场模拟回流焊接,用同样的钢网与陶瓷片,参照产线回流曲线测试,分两组:第一组完全按曲线,第二组把预热时间延长到 5 分钟,其余条件不变。

  • 两组测试中,三款锡膏均未出现明显葡萄球。

这一步的试验设计值得单独说。预热时间延长后,助焊剂受热变久、活性通常会下降,除氧化物的能力随之减弱——如果本身活性不足,这组本该出问题,结果依然良好。反过来说,锡膏中助焊剂本身的活性是满足焊接要求的。


6. PY-GCMS 分析:锁定板面挥发物

这一步用 PY-GCMS 分析 PCB 板在焊接温度下释放的气体:分别取失效板与正常板各 20mg,在模拟焊接条件(260℃)下烘烤 10 分钟,检测裂解挥发产物。两块板释放出的物质不同,差异集中在一类成分上:

  • 失效板挥发物中光引发剂 907 的相对含量明显高于正常板。表中含量由峰面积归一化法计算得出,不代表物质在样品中的实际含量,仅用于两块板之间的横向对比。

NG样品PY-GCMS测试结果谱图

NG样品PY-GCMS测试结果谱图

光引发剂 907 是紫外固化阻焊油墨的常用成分,作用是在紫外光下产生自由基、引发树脂交联。它出现在 260℃ 的挥发产物里,指向一个具体判断:板上残留了未完全固化的阻焊油墨——固化充分的油墨,这部分引发剂在固化阶段就该被消耗掉。


7.失效机理

综合各项测试,本案根因链条如下:


PCB材料或固化状态存在差异
↓
焊接过程中裂解、挥发出的产物不同
↓
失效PCB释放的光引发剂907比例更高
↓
907引发助焊剂中松香组分发生失活反应
↓
助焊剂去氧化和防氧化能力下降
↓
熔融焊料氧化、锡粉无法充分聚并
↓
焊点形成“葡萄球”


因此,更换PCB后失效消失并不是偶然;更换锡膏或调整炉温后失效改善,本质上也是改变了挥发物释放过程、助焊剂化学环境或回流反应窗口。

但单靠换锡膏或调炉温,只能缓解现象,不能替代对PCB材料及固化状态的根本原因管理。

声明:本案例已做脱敏处理,所有数据均来自实验室真实分析,未经许可不得转载。

8.写在最后

这个案例最值得借鉴的是那条排查路径:先把问题的性质定下来(是没熔透,不是被污染),再把能想到的原因逐个排除(锡粉没氧化、助焊剂活性够),剩下的那一条自然浮出来(有别的东西进来了)。

后一半工作同样关键——把挥发物的成分差异和助焊剂失活的化学反应接起来,才真正定位到 PCB 的固化工艺上。同一个现象可以有多个解,但根因只有一个。判断一个方案是治标还是治本,就看它能不能解释清楚"为什么另一个方向的调整也有效"。

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