深圳市美信检测技术股份有限公司

EMMI定位

微光显微镜（Emission Microscope,EMMI）是用来做故障点定位、寻找亮点、热点(Hot Spot)的工具，通过测量样品加偏压所释放出来的光子来定位故障点。EMMI可广泛应用于侦测各种组件缺陷所产生的漏电流，包括闸极氧化层缺陷(Gate oxide defects)、静电放电破坏(ESD Failure)、闩锁效应(Latch Up)、漏电(Leakage)、接面漏电(Junction Leakage) 、顺向偏压(Forward Bias)及在饱和区域操作的晶体管。

EMMI定位

| 项目概述

| 测试目的

通过EMMI定位技术，快速准确地找到样品中的热点或亮点位置，进而分析缺陷产生的原因。这一技术不仅提高了故障点定位的效率，还为后续的失效分析提供了有力支持，有助于缩短产品研发周期，降低生产成本。

| 服务产品/领域

1、半导体材料：检测材料中的缺陷和杂质。

2、器件缺陷检测：识别并定位器件中的故障点。

3、集成电路：分析集成电路中的失效原因。

4、材料科学：研究材料的光电特性和失效机制。

5、纳米技术：在纳米尺度上定位和分析故障点。

| 项目优势

1、灵敏度高：能够捕捉到微弱的光子信号，确保故障点的精确定位。

2、波长探测范围广：覆盖近红外波段，提供更广泛的探测能力。

3、非破坏性检测：无需对样品进行破坏性处理，保护了样品的完整性。

4、广泛应用领域：适用于半导体材料、器件缺陷检测、集成电路、材料科学及纳米技术等多个领域。

| 美信优势

1、专业团队：拥有多名经验丰富的检测工程师和技术专家。

2、先进设备：配备国际领先的检测设备，确保检测结果的准确性和可靠性。

3、高效服务：快速响应客户需求，提供一站式高效检测服务。

4、权威认证：实验室通过ISO/IEC 17025认证，检测报告具有国际公信力。

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