深圳市美信检测技术股份有限公司

Thermal EMMI

Thermal EMMI（Thermal Emission Microscopy Imaging，热发射显微镜成像）是一项专注于电子元器件和集成电路故障分析的前沿技术应用项目。该项目利用先进的热发射显微镜技术，能够精准地定位在工作状态下电子设备中产生异常热量的区域，即热点，这些热点往往与潜在的故障或缺陷密切相关。通过对热点的准确识别和分析，Thermal EMMI 项目旨在为电子设备的研发、生产以及质量控制提供关键的技术支持，从而提高产品的可靠性和性能。

Thermal EMMI

| 项目概述

| 测试目的

1.确认金属之间的短路、漏电和击穿

2.器件电阻异常

3.器件上的温度分布

| 试验标准

Thermal EMMI 项目遵循依客户要求的标准进行测试和分析。

| 服务产品/领域

Thermal EMMI 项目广泛应用于 PCBA（印刷电路板组件）、芯片、MOS（金属氧化物半导体场效应晶体管）、元器件等电子设备的故障分析领域。这些领域对产品的可靠性和性能要求极高，通过 Thermal EMMI 项目可以及时发现并解决潜在的故障问题，提高产品的整体质量。

| 项目优势

1、高分辨率：Thermal EMMI 技术能够实现纳米级别的热点定位，具有很高的分辨率和精度。

2、非接触式测试：测试过程中无需接触样品，不会对样品造成损伤，适用于各种封装形式的电子元器件和集成电路。

3、实时监测：可以实时监测样品的热效应，快速准确地定位热点，提高测试效率。

4、多功能性：除了热点定位，Thermal EMMI 技术还可以用于热分析、热管理和可靠性评估等方面。

| 美信优势

1、专业团队：拥有多名经验丰富的检测工程师和技术专家。

2、先进设备：配备国际领先的检测设备，确保检测结果的准确性和可靠性。

3、高效服务：快速响应客户需求，提供一站式高效检测服务。

4、权威认证：实验室通过ISO/IEC 17025认证，检测报告具有国际公信力。

在线服务咨询

* 姓名：
* 邮箱：
* 公司：
职位：
* 电话：
城市：
咨询内容：

1.当您提供个人信息给本网站，除非根据法律或政府的强制性规定，在来得到抱许可之前，我们不会将您的任何个人信息透露(共享、出售或泄器)给第三方(包括公司或个人)。

2.您提供的信息只会被用于帮助我们为您提供更好的服务。