深圳市美信检测技术股份有限公司

先进材料表征

先进材料表征技术就是利用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体表面的相互作用，测量从表面散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间分布或衍射图像，表征材料表面微观形貌、表面粗糙度、表面微区成分、表面组织结构、表面相结构、表面镀层结构及成分等相关参数。

先进材料表征

| 项目概述

| 常用检测技术

X射线能谱分析（EDS）、俄歇电子能谱分析（AES）、X射线光电子能谱分析（XPS）、动态二次离子质谱分析（D-SIMS）、飞行时间二次离子质谱分析（TOF-SIMS）、聚焦离子束分析（FIB）、离子研磨抛光（CP）等技术。

· X射线光电子能谱分析（XPS）

X射线光电子能谱不仅能测定表面的组成元素，而且还能给出各元素的化学状态信息，能量分辨率高，具有一定的空间分辨率（目前为微米尺度）。用于测定表面的组成元素、给出各元素的化学状态信息。

1. 元素Li-U定性定量

2. Li-U元素价态分析

3. 检出限0.1%

4. UPS功能 (功函数、价带谱)

5. 深度剖析极限深度1μm

6. 分析区域最小30-400μm ,深度5-10nm

应用案例

锆合金管高温摩擦后表面元素及价态分析

· 飞行时间二次离子质谱分析（TOF-SIMS）

飞行时间二次离子质谱通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量。可以提供表面，薄膜，界面以至于三维样品的元素、分子等结构信息，其特点在二次离子来自表面单个原子层分子层（1nm以内），仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点。

1. 全元素及同位素定性（包括H）

2. 有机物分子式、官能团定性

3. 检出限ppm

4. 分析区域最小1μm ,深度1-10nm

5. 面扫描最大300X300μm

应用案例

| 美信优势

1、专业团队：拥有多名经验丰富的检测工程师和技术专家。

2、先进设备：配备国际领先的检测设备，确保检测结果的准确性和可靠性。

3、高效服务：快速响应客户需求，提供一站式高效检测服务。

4、权威认证：实验室通过ISO/IEC 17025认证，检测报告具有国际公信力。

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