印制板及其组件(PCB&PCBA)是电子产品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接决定了电子产品的可靠性。为了保证和提高电子产品的质量和可靠性,对失效进行全面的理化分析,确认失效的内在机理,从而有针对性地提出改善措施。
电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象,分辨其失效模式和失效机理,确认最终的失效原因,提出改进设计和制造工艺的建议,防止失效的重复出现,提高元器件可靠性。
集成电路复杂度与性能要求的持续攀升,叠加设计、制造、封装及应用环节的潜在风险,导致短路、开路、漏电、烧毁、参数漂移等关键失效模式频发。这不仅造成昂贵的器件报废与系统宕机,更常引发设计方、代工厂、封测厂与终端用户间的责任争议,带来重大经济损失与信誉风险。
高分子材料性能要求持续提升,而客户对高要求产品及工艺的理解差异,导致断裂、开裂、腐蚀、变色等典型失效频发,常引发供应商与用户间的责任纠纷及重大经济损失。
金属构件服役环境日益苛刻,对材料性能和结构可靠性提出更高要求。然而,设计缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不当使用等因素,极易引发疲劳断裂、应力腐蚀开裂、氢脆、蠕变、磨损、过载变形等典型失效。
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充电设备模型(CDM)静电放电(ESD)测试

充电设备模型(CDM)静电放电(ESD)测试 能模拟人体带电接触器件时的放电,评估器件对ESD耐受及闩锁效应抵抗能力,防止器件因过压过流损坏失效,对汽车电子等众多领域产品质量保障意义重大。

美信检测通过精准模拟器件与地连通时的放电场景,有效评估器件对ESD的耐受能力。我们的服务兼容多种标准,具备灵活配置与先进监测功能,为产品质量助力,提供专业可靠的测试支持。

 
 
充电设备模型(CDM)静电放电(ESD)测试

 

| 项目概述

 

充电器件静电放电(CDM ESD)是指器件先因磨擦或其它因素而在器件内部累积了静电,但在静电累积的过程中器件并未被损伤。此带有静电的器件在处理过程中,当其pin碰触到接地面时,器件内部的静电便会经由pin自器件内部流出来,而造成了放电的现象。

 

 

| 测试目的

 

模拟器件与地连通时的放电情况,评估器件对静电放电(ESD)的耐受能力。

 

 

| 测试标准

 

JEDEC JS-002-2022 Electrostatic Discharge Sensitivity Testing Charged Device Model (CDM) Device Level.

 

 

| 服务产品/领域

 

汽车电子制造、封装和测试过程。

 

 

| 项目优势

 

1、高清摄像头(3个:XYZ),方便快速定位被测器件;

2、高性能运动伺服系统(最小1um运动步进);

3、允许批量测试多个系统;

4、密封环境室提高干燥机组效率。

 

| 试验原理

 

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