印制板及其组件(PCB&PCBA)是电子产品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接决定了电子产品的可靠性。为了保证和提高电子产品的质量和可靠性,对失效进行全面的理化分析,确认失效的内在机理,从而有针对性地提出改善措施。
电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象,分辨其失效模式和失效机理,确认最终的失效原因,提出改进设计和制造工艺的建议,防止失效的重复出现,提高元器件可靠性。
集成电路复杂度与性能要求的持续攀升,叠加设计、制造、封装及应用环节的潜在风险,导致短路、开路、漏电、烧毁、参数漂移等关键失效模式频发。这不仅造成昂贵的器件报废与系统宕机,更常引发设计方、代工厂、封测厂与终端用户间的责任争议,带来重大经济损失与信誉风险。
高分子材料性能要求持续提升,而客户对高要求产品及工艺的理解差异,导致断裂、开裂、腐蚀、变色等典型失效频发,常引发供应商与用户间的责任纠纷及重大经济损失。
金属构件服役环境日益苛刻,对材料性能和结构可靠性提出更高要求。然而,设计缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不当使用等因素,极易引发疲劳断裂、应力腐蚀开裂、氢脆、蠕变、磨损、过载变形等典型失效。
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ECM/CAF测试

能提前发现金属导体间因短路或漏电引发的失效风险,确保产品电气安全;同时评估PCB清洁度与辅料可靠性,预防因污染或材料缺陷导致的早期失效,对提升电子产品质量和长期稳定性具有关键意义。

ECM/CAF测试

| 项目概述

 

ECM/CAF测试可以⽤来评估⾦属导体之间由于短路或者电流泄露造成的失效问题,以及评估PCB的清洁度、PCB和电子辅料可靠性的重要方法。

 

 

| 测试目的

 

1. 改善电路板设计或布局;

2. 改进清洁材料或⼯艺;

3. 变更助焊剂和/或锡膏;

4. 变更回流焊或波峰焊⼯艺;

5. 使⽤新⾊敷形涂料或⼯艺;

6. 考核裸板供应商资质;

7. 基于可靠性的产品标定。

 

 

| 试验标准

 

IPC/J-STD-004,JIS Z 3197-1999,IEC 61189-5,IPC-TM-650,ISO 9455-17,Bellcore GR-78-CORE等。

 

 

| 服务产品/领域

 

助焊剂、清洗剂、锡膏、三防漆、锡渣还原剂、PCB、FPC等;

 

 

| 项目优势

 

1. 测试电压100-1500V;

2. 开放式测试夹具;

3. 测试通道256CH;

4. 具有断电保护,防止数据丢失。

 

 

| 美信优势

 

1、专业团队:拥有多名经验丰富的检测工程师和技术专家。

2先进设备:配备国际领先的检测设备,确保检测结果的准确性和可靠性。

3高效服务:快速响应客户需求,提供一站式高效检测服务。

4权威认证:实验室通过ISO/IEC 17025认证,检测报告具有国际公信力

 

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