印制板及其组件(PCB&PCBA)是电子产品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接决定了电子产品的可靠性。为了保证和提高电子产品的质量和可靠性,对失效进行全面的理化分析,确认失效的内在机理,从而有针对性地提出改善措施。
电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象,分辨其失效模式和失效机理,确认最终的失效原因,提出改进设计和制造工艺的建议,防止失效的重复出现,提高元器件可靠性。
集成电路复杂度与性能要求的持续攀升,叠加设计、制造、封装及应用环节的潜在风险,导致短路、开路、漏电、烧毁、参数漂移等关键失效模式频发。这不仅造成昂贵的器件报废与系统宕机,更常引发设计方、代工厂、封测厂与终端用户间的责任争议,带来重大经济损失与信誉风险。
高分子材料性能要求持续提升,而客户对高要求产品及工艺的理解差异,导致断裂、开裂、腐蚀、变色等典型失效频发,常引发供应商与用户间的责任纠纷及重大经济损失。
金属构件服役环境日益苛刻,对材料性能和结构可靠性提出更高要求。然而,设计缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不当使用等因素,极易引发疲劳断裂、应力腐蚀开裂、氢脆、蠕变、磨损、过载变形等典型失效。
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速看!一例典型的焊点连锡失效案例
发布时间: 2025-09-04 00:00
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连锡指两个及多个焊点被焊料连接在一起,造成外观及功能上不良。结构设计缺陷、工艺不良、焊料不良等都会导致元器件出现锡珠、连锡、虚焊等失效问题,影响产品使用可靠性。

某LED 显示模组表面喷墨后高温烘烤,烘烤后出现大量锡珠,且局部列亮。

接下来将通过无损检测、表面分析、切片分析、成分分析等失效分析手段,查找模组烘烤后出现大量锡珠的原因,并提出改善建议。

1.失效复现&外观检查

对模组通电后进行失效现象确认,不良样品模组均出现列亮异常,未喷墨样品未见明显异常。

NG模组灯珠焊点周围,外观检查均发现大量锡珠存在;而未喷墨的正常样品模组灯珠焊点周围均未见明显异常。

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图1.NG样品与未喷墨OK样品光学检查照片

2.无损检测

NG模组列亮异常灯珠焊点周围发现有大量锡珠现象,局部存在连锡异常;OK模组灯珠焊点周围未见明显异常。

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图2.NG和OK透射检查照片

3.表面分析

 NG透射检查灯珠连锡异常位置剥离灯珠后,灯珠焊盘间确实存在连锡异常;未剥离灯珠边缘也可见有明显锡珠存在;焊盘处焊锡与连锡处焊锡成分均为锡铋焊料,未见明显区别。

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图3. NG连锡灯珠机械剥离后界面形貌及EDS成分结果


 OK灯珠剥离后界面和未剥离灯珠周围均未见锡珠及连锡异常。

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图4.OK灯珠机械剥离后界面形貌及EDS成分结果


4.剖面分析

 NG连锡处焊锡和OK正常焊点焊锡,两者均为锡铋焊料,形貌和成分均未见明显区别;油墨与阻焊层之间界面轮廓清晰,界限分明,未发现明显反应迹象。灯珠焊点焊锡高度对比显示:连锡灯珠的焊点焊锡高度为28.3µm,远低于正常样品灯珠焊点高度。


      以上结果可以说明:NG连锡处焊锡来自焊点焊锡,其形成过程推测为:焊点在高温烘烤过程中熔融,被周围油墨膨胀排挤而导致连锡发生,后续对连锡形成机理进一步分析。


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图5.NG#连锡灯珠切片后截面形貌及EDS成分谱图


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图6.OK#灯珠焊点切片后截面形貌及EDS成分谱图

5.油墨成分分析&含水量分析

   油墨EDS成分分析显示:油墨含有Si/C/O/Ti/Al元素;

   油墨FTIR成分分析显示:油墨主要成分为二氧化硅填充的氨基丙烯酸树脂。

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图7. 油墨形貌及EDS成分分析谱图

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图8. 油墨FTIR分析谱图


对油墨中水含量进行测试,结果显示油墨中水重量百分比含量为1.38%。

6.热性能分析

6.1 熔点测试


      将锡膏融成锡块后,对锡块熔点进行测试,结果如下:

      1)焊锡熔点为138.3℃。

      2)模拟试验:焊锡+油墨(混合比例1:1)熔点为137.5℃,与未添加油墨时焊锡熔点无明显区别,说明焊锡熔点未受到油墨的影响。

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图9.焊锡熔点测试曲线


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图10.焊锡+油墨(比例1:1)熔点测试曲线


6.2 油墨TG测试

   参考BS EN ISO 11358-1:2014 塑料 聚合物热重法(TG) 第1部分:通则,对油墨TG进行测试,结果如下:

油墨质量在112.3℃-250℃之间急剧降低,说明在该温度区间,油墨发生了急剧的挥发分解反应。而焊锡熔点在137.5℃-138.3℃,油墨急剧挥发时,焊锡处于熔融状态,故焊点焊锡一定承受了来自油墨挥发及膨胀的内应力作用。

7.模拟试验

   对未喷油墨模组涂抹油墨后,分别在不同温度条件下烘烤一定时长,然后对烘烤后样品进行透视检查,结果如下:


      1)70℃-130℃恒温烘烤后,发现模组灯珠焊锡周围未见明显锡珠异常。


      2)140℃/160℃恒温烘烤后,发现模组灯珠焊锡周围可见大量锡珠现象,不良现象与失效样品一致。


      以上结果说明,烘烤温度高于焊锡熔点后,模组灯珠焊锡周围一定会有锡珠异常的产生,而温度低于焊锡熔点时,将不会产生锡珠及连锡等异常现象。


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图11.模拟喷墨烘烤后X-Ray透射检查图片


8.总结与建议

结论:综上所述,模组发生列亮异常的直接原因为模组灯珠焊点间发生了连锡异常,而连锡产生的原因为喷墨后烘烤过程中,温度高于焊锡熔点,导致焊点焊锡熔融,而油墨在该温度下急剧挥发、膨胀,导致周围熔融焊点被排挤而出现连锡及爆锡锡珠异常。


建议:降低烘烤温度,建议按照规格书固化工艺参数进行管理。


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