印制板及其组件(PCB&PCBA)是电子产品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接决定了电子产品的可靠性。为了保证和提高电子产品的质量和可靠性,对失效进行全面的理化分析,确认失效的内在机理,从而有针对性地提出改善措施。
电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象,分辨其失效模式和失效机理,确认最终的失效原因,提出改进设计和制造工艺的建议,防止失效的重复出现,提高元器件可靠性。
集成电路复杂度与性能要求的持续攀升,叠加设计、制造、封装及应用环节的潜在风险,导致短路、开路、漏电、烧毁、参数漂移等关键失效模式频发。这不仅造成昂贵的器件报废与系统宕机,更常引发设计方、代工厂、封测厂与终端用户间的责任争议,带来重大经济损失与信誉风险。
高分子材料性能要求持续提升,而客户对高要求产品及工艺的理解差异,导致断裂、开裂、腐蚀、变色等典型失效频发,常引发供应商与用户间的责任纠纷及重大经济损失。
金属构件服役环境日益苛刻,对材料性能和结构可靠性提出更高要求。然而,设计缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不当使用等因素,极易引发疲劳断裂、应力腐蚀开裂、氢脆、蠕变、磨损、过载变形等典型失效。
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焊点一推就掉?你以为是锡膏的错?不!可能是PCB“内伤”在作祟!

发布时间: 2026-04-22 00:00
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“这批板子太邪门了,负极焊点像没焊住一样,轻轻一推就整个掉了。”这是一位硬件工程师最近遇到的麻烦事。

据产线反馈,某款遥控钥匙的PCBA在客户端使用时,负极焊点频繁脱落,焊接强度明显不达标。

问题样品(NG件)寄到实验室时,工程师特意附上了同批次的正常样品(OK件)和PCB光板,希望通过对比分析找出失效根因。

是锡膏问题?回流炉温曲线异常?还是PCB本身存在缺陷?

我们从失效现象入手,逐一排查。


1.外观初检:断口异常平整

首先,对NG样品的焊点脱落界面进行外观检查。

结果显示,开裂界面异常平整,焊料与PCB焊盘之间几乎没有"拉扯"痕迹——就像两块从未真正粘合的材料,轻轻一碰便分离了。

焊点周围还可见明显的透明状助焊剂残留,说明焊接过程并非"漏焊",而是焊了却没焊住。

典型外观图

典型外观图

作为对比,PCB光板表面未见明显异常,仅凭外观难以定位问题根源。

典型外观图

典型外观图

初步判断:焊点脱落并非由外力导致,而是焊接界面本身强度不足。


2.表面分析:脱落界面呈现"泥裂"形貌

采用扫描电子显微镜(SEM)对脱落界面进行微观形貌观察。

NG-1 PCB端焊盘表面呈现典型的"泥裂"(mud crack)形貌——裂纹呈网状分布,类似干涸河床。

NG-1 PCB端脱落界面形貌图

NG-1 PCB端脱落界面形貌图

能谱分析(EDS)结果表明,该区域主要成分为镍(Ni)和磷(P),对应化学镍金(ENIG)工艺中的镍磷合金层。

NG-1 PCB端脱落界面EDS谱图

NG-1 PCB端脱落界面EDS谱图

"泥裂"形貌是镍层腐蚀的典型特征,表明镍层在焊接前已受化学药水过度侵蚀,表面产生微裂纹并导致界面结合强度下降。

NG-2 焊接件端脱落界面同样平整,EDS显示其主要成分为锡(Sn)、铅(Pb)及少量镍(Ni),未见明显异常元素富集。

NG-2 PCB端脱落界面形貌及EDS谱图

NG-2 PCB端脱落界面形貌及EDS谱图

NG-2 PCB端脱落界面形貌及EDS谱图

结论:焊点失效位置位于ENIG镍层与焊料界面,PCB端镍层存在明显的镍腐蚀(Nickel Corrosion)现象,为导致焊点强度不足的主要失效机理。


3.剖面分析:IMC与富磷层均超出控制限

为进一步验证失效机理,对NG件与OK件进行金相切片(Cross-section)分析,对比其微观组织差异。

NG件剖面特征:

  • IMC层过厚:金属间化合物(IMC)厚度达1.46~4.43μm,超出典型控制范围(1.5~2μm),呈树枝状、块状粗大形貌,连续性差;

  • 富磷层明显:镍层与IMC界面间存在厚度413~596nm的富磷层(Ni₃P),磷含量高达10.4~11.8wt%;

  • 镍腐蚀严重:镍层表面可见明显腐蚀坑,局部贯穿整个镍层。

NG件剖面图片

NG件剖面图片

NG件剖面图片

OK件同样存在隐患:

  • IMC厚度1.34~3.51μm,同样超出控制上限;

  • 富磷层厚度与NG样品处于同一量级;

  • 镍腐蚀现象同样存在,局部贯穿镍层。

OK件剖面图片

OK件剖面图片

结论:NG件与OK件在微观结构上无本质差异,IMC过厚、富磷层偏厚及镍腐蚀为批次共性缺陷。NG件的焊点脱落并非孤立失效,而是上述缺陷累积至临界状态的必然结果。

4.PCB质量验证:镍腐蚀为来料固有缺陷

为判定镍腐蚀的产生阶段(焊接过程 vs PCB来料),对NG件空焊盘及PCB光板进行剥金(Au Stripping)处理,直接暴露镍层表面进行观察。

结果如下:

  • NG件空焊盘:镍层表面"泥裂"形貌严重,局部可见明显开裂;

NG件焊盘剥金后表面形貌

NG件焊盘剥金后表面形貌

  • PCB光板:镍层表面同样存在轻微"泥裂"痕迹。

PCB光板表面形貌

PCB光板表面形貌

结论:镍腐蚀并非焊接过程引入,而是PCB在ENIG化学镍金工艺阶段即已形成的来料固有缺陷。


根本原因:

  1. 富磷层过厚:焊接时,镍层中的磷不参与反应,富集在界面形成脆性富磷层。过厚的富磷层与IMC之间变形能力差异大,极易成为开裂起点。

  2. 镍腐蚀严重:镍层表面微裂纹和腐蚀坑导致IMC生长不连续,界面缺陷多,焊点强度大打折扣。

  3. IMC过厚:过厚的IMC本身脆性大,进一步降低焊点抗剪切能力。

改进建议:

  1. 加强PCB来料检查:重点关注镍层表面状态,避免镍腐蚀板流入产线。

  2. 优化回流焊炉温曲线:控制热输入,避免IMC过度生长。

  3. 推动PCB供应商改进化金工艺:从源头减少镍腐蚀和富磷层厚度。

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